Microscop de forță atomică
![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/7/7c/Atomic_force_microscope_block_diagram.svg/220px-Atomic_force_microscope_block_diagram.svg.png)
Microscopul de forță atomică (AFM, din engleză Atomic force microscopy) este un tip de microscop cu rezoluție foarte înaltă, sub un nanometru.[1] Informația este preluată ca urmare a „atingerii” probei cu un element mecanic, precum piezoelectric. AFM permite determinarea proprietăților topografice, magnetice, chimice, optice și mecanice de la suprafața unei probe în aer, lichide sau la vid ultra-înalt.[2]
Note
Vezi și
![Commons](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/4/4a/Commons-logo.svg/30px-Commons-logo.svg.png)
Wikimedia Commons conține materiale multimedia legate de Microscop de forță atomică
- Microscop electronic
- Microscop cu efect tunel
- Microscop optic